Dang , T. M. L.; Nguyen , N. Q.; Bui , D. K.; Duong , T. N.; Ho , Q. T.; Duong , V. T.; Tran , T. H.; Bui , T. A. D.; Pham , B. N. Characteristics of the Reference X-Ray Narrow-Spectrum Series at SSDL of Institute for Nuclear Science and Technology. Nucl. Sci. and Tech. 2026, 12, 23-28.